隨著我們步入萬物互聯的時代,我們的世界變得斑斕色彩的模樣。世...
集成電路作為電子信息產業的核心,是不可缺少的部分之一。在短短...
隨著技術的不斷創新,測試測量也是不斷突破自己,在測試測量的領...
和繪制波特圖,說再見
會議主題: 高可靠隔離電源風險評估設計
時間: 2019-08-15
主講嘉賓: 蘇偉健
報名人數: 600
會議主題:電源網年終盛會---深圳站
會議時間:2019-11-16
會議地點:深圳馬哥孛羅好日子酒店
報名人數:1308
熱搜: TI 充電樁 電動車 Type-C 氮化鎵
熱問題是三維集成電路(IC)設計中的一個主要問題。 在現代集成電路設計中,漏電正成為一個關鍵的設計挑戰,這也導致了熱問題。 由于工藝積垢,泄漏功率上升過快,大大提高了模具溫度。 本文首先研究了泄漏功率對三維充填體熱剖面的影響,然后分析了基于3D- staf [l7}平臺的熱泄漏感知jloorplanning。 最后,在實驗結果中分析了熱控制的效果,包括熱感知jloorplanner和熱插入式熱管理。 結果表明,泄漏功率使芯片的最高溫度提高了50%左右。 因此,所需的熱通徑數也大大增加了約52.